简单介绍
BX51IR显微镜可对裸眼不可见的区域进行无损的检查和分析，以及近红外观察特化的显微镜。能对半导体晶片内部和集成电路组件背面进行无损的CPS bumps观察。
金相显微镜的详细介绍
奥林巴斯科研级正置系统显微镜 BX51/BX51M-IR
● 近红外外透射反射观察用显微镜
● 5X到10X红外镜头,像差校正本涵盖从可见光到近红外整个波段
● 晶圆，化合物半导体的内部，封装芯片内部以及CSP bump观察适宜
主要特点：
１、UIS无限远校正光学系统，提供出色的图像质量
２、人机工程学的进一步改善，使操作更为舒适
３、多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要
BX51M-IR主要技术规格
BX51M-IR和BX51 这两款显微镜镜体相同，带有同样的反射照明装置，可对半导体内部实行近红外观察，同样可对封装芯片内部和CSPbump进行观测。
