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CTNV-2000系列，是采用封闭式X射线源的高性能成像系统，射线源免维护，样品腔室可以容纳大尺寸的样品，具备拓展原位加载装置的能力，可以选配物镜耦合探测器实现大工作距离下的高分辨成像。
● 闭管射线源，无需耗材，维护简单
● 腔体尺寸较大，具备较强的扩展能力
● 0.5μm高空间分辨率
● 多种扫描模式：螺旋、偏置、有限角等
分辨率
像素细节分辨能力 | 1μm(平板探测器) / 50nm(物镜耦合探测器) |
空间分辨率* | 3μm(平板探测器) / 500nm(物镜耦合探测器) |
X射线源
类型 | 闭管 |
最高电压 | 150KV |
平板探测器
成像面积 | 244mm×195mm |
像素矩阵 | 1920×1536 |
物镜耦合探测器
镜头 | 4X、10X、20X |
样品
可检测样品尺寸 | 400mm×300mm(直径×高度) |
样品承重 | 15kg |
设备物理参数
设备尺寸 | 1620mm×1100mm×1700mm(长×宽×高) |
设备重量 | 2400kg |
*空间分辨率可用空间分辨率测试卡进行测试验证
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