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_激光平面度检测仪|全自动研磨抛光机|端子截面分析仪|手动影像测量仪

昆山华乃尔精密仪器有限公司

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X荧光岛津光谱仪

BXR606是一款Rohs6项检测的专用测试仪器,在国内已经应用多年,品质稳定,价格实惠,并根据客户的需求增加Sn,Ti,Sb等项目的检测,以及电镀膜厚等的测试。 [Detailed]

Rohs元素分析仪

岛津能量色散型X射线荧光分析装置EDX-7000(检测元素范围Na~U)和EDX-8000(检测元素范围C~U)。 [Detailed]

X荧光元素分析仪

EDX-7000/8000 能量色散型X射线荧光分析装置 EDX-7000,分析范围:11Na---92U EDX-8000,分析范围:6C---92U[Detailed]

X射线荧光光谱仪EDX-720

X射线荧光光谱仪EDX-720 迅速测定ppm级的有害金属! 应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。 应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令,保证产品和用料的绿色环保。 X射线荧光光谱仪EDX-720是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液…[Detailed]

X射线荧光分析仪EDX-GP

X射线荧光分析仪EDX-GP是最适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧X射线荧光分析装置EDX-GP光分析装置。   第一次使用EDX-GP,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到最高灵敏度与最佳分辨率的完美结合。EDX-GP标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,…[Detailed]

X射线荧光分析仪EDX-LE

EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoH…[Detailed]

岛津X荧光分析仪 EDX-LE Plus

能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(高分辨率SDD)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可…[Detailed]

微焦X-Ray线透视装置SMX-160GT

[1μm焦点] 可直接观察IC盘上的BGA,能够用高放大倍数从所有角度位置观察、解析。 利用NC技术提供旋转倾斜(跟踪)功能/自动定位功能/标记功能(选件),放大倍率可达2700倍,高分辨率透视,能够进行尺寸测BGA透视图像 SMX-160GT的倾斜图像不是让样品倾斜,而是驱动影像增强器可倾斜到60°角进行拍摄,得到具有立体感的透视图像。[Detailed]

微焦X射线透视检查装置SMX-2000

岛津SMX-2000采用了高速载物台、配置了外观图像决定位置功能、只点击一下鼠标就能完成所有必要设定的跟踪功能等,能够更加迅速地移动样品和变换观察角度,实现透视检查。SMX-2000尤其适合BGA焊球缺陷、观察焊线键和状态等实装板的检查。 [Detailed]

微焦X-Ray射线透视检查装置SMX-1000/1000L

产品信息 操作简便、功能强大的紧凑型X射线检查装置,选择增加VCT组件后,立刻成为CT设备! SMX-1000/SMX-1000L采用FPD(数字式平板检出器)和密闭式微焦点X射线管球,可以得到没有变形和重影的清晰的透视图像。设备上的CCD相机可拍摄样品实物图片,从而实现导航功能、步进功能、教学功能、图像数据功能以及各种测量功能。 [Detailed]

微焦点X-Ray射线透视检查装置

岛津SMX-800分辨率可达10微米,SMX-800可用来确认BGA芯片的各种贴装不良情况,如短路、锡球变形、虚焊等;还可确认各种样品内部的状态,如连接器电源、微动开关、SD卡、焊线、LED指示灯、晶振、引线接合、电容器、锂离子电池、手机用小型马达、光电耦合器,铸造产品等。[Detailed]

X-Ray无损检测仪

Xspection 6000是一款采用平板探测器和大发射角的微焦斑X光管组合的高性能、高性价比的闭管X光机,它支持360度旋转,最大倾斜角度70度,可以升级为工业CT,是SMT(BGA),航空航天,半导体等产品无损检测的最佳产品。 [Detailed]
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