FT160 使用能量色散X射线荧光（EDXRF）的无损分析技术以生成样品的X
射线光谱。使用所提供的基本参数（FP）或经验系数软件对该元素X射线光
谱进行处理，以生成镀层厚度或成分值。
FT160 包含的标配功能使其成为镀层分析的理想选择。大型样品室选件可
适用于各种零件。电动样品台可轻松自动地测量多件样品或单件样品上的
多个部位，或执行扫描以获得不均匀表面的分布信息分析。30μm的光束直
径确保了超薄膜、微连接器引线框架和印刷电路板的最佳分析性能。
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