日立用于测量镀层厚度和成分的台式 XRF 分析仪系列旨在应对当今电镀车间和电子元件制造商的挑战。每台仪器都包含强大的技术，可提供准确和精确的结果，坚固耐用，可以应对生产或实验室环境中的持续使用。
无论您的挑战是测量各种形状和尺寸、应对异常大的基材、测量超薄镀层的微小特征，还是仅仅是您必须在一天内完成的分析量，日立镀层 XRF 分析仪都能应对这些挑战，帮助您可以减少浪费、减少返工并确保离开您工厂的组件具有高质量。随着镀层变得越来越复杂，部件越来越小，我们的产品系列旨在应对未来的挑战，为您的投资提供永不过时的保障。
| 参数 | X-Strata920 （正比计数器） | X-Strata920 （硅漂移探测器） |
| 元素范围 | Ti – U | Ai – U |
| 样品舱设计 | 开槽式 | 开槽式 |
| XY 轴样品台 | 固定台、加深台、自动台 | 固定台、加深台、自动台 |
| 最大样品尺寸 | 250(宽)x200(深)x50(高)mm | 250(宽)x200(深)x50(高)mm |
| 最大准直器数 | 6 | 6 |
| 最大滤光片数 | 3 (secondary) | n/a |
| 最小准直器 | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) | 0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil) |
| 最大样品台行程 | 178 x 178 mm | 178 x 178 mm |
| SmartLink 软件 | ✔️ | ✔️ |
