Fischerscope X-RAY XAN500 是一款便携式的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，适用于质量控制、进料检验和生产流程监控。它可以实现对大型工件的镀层测量、合金材料分析等任务，并具有高精度和稳定性。配备硅漂移探测器和完全基本参数法，无需校验标准片即可分析样品成分和测量镀层厚度。此外，还可选配便携式智能箱，方便检测小型样品。
Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移动使用并且应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它特别适用于镀层厚度的无损测量及材料分析。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有：
- 测量大型工件的镀层，如：机械零件和外壳
- 在电镀过程中进行移动实时测量
- 对合金材料进行移动实时检测
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的 FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。
XAN500 采用先进的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠 FISCHER 的完全基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
使用 XAN500 型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以安全地放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。
可按要求，提供额外的 XAN500 型产品更改和 XAN500 仪器技术咨询。
