CTNV-4000系列，可搭配高达300KV的微焦点射线源，可以确保样品穿透情况下同时达到高精度检测能力，适合大尺寸、中高密度样品的高分辨率检测需求。
特点与优势
● 兼具高分辨和高穿透能力
● 更大承重的样品台
● 多种扫描模式：螺旋、偏置、有限角等
● 具备强大的扩展能力
技术指标
分辨率
像素细节分辨能力 | 500nm |
空间分辨率* | 2μm |
X射线源
类型 | 开管反射式 |
最高电压 | 300KV / 240KV / 225KV / 190KV / 160KV |
平板探测器
成像面积 | 427mm×427mm |
像素矩阵 | 3072×3072 |
样品
可检测样品尺寸 | 600mm×550mm(直径×高度) |
样品承重 | 25kg |
设备物理参数
设备尺寸 | 2770mm×1440mm×2040mm(长×宽×高) |
设备重量 | 7500kg |
*空间分辨率可用空间分辨率测试卡进行测试验证
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